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Bücher
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Art des Inhalts Hochschulschrift
Titel Premelting at the ice-SiO2 interface : a high-energy x-ray microbeam diffraction study / vorgelegt von Simon Christoph Engemann
Person(en) Engemann, Simon Christoph (Verfasser)
Verlag Norderstedt : Books on Demand GmbH
Zeitliche Einordnung Erscheinungsdatum: 2005
Umfang/Format XIV, 179 S. : Ill., graph. Darst. ; 21 cm
Andere Ausgabe(n) Erscheint auch als Online-Ausgabe: Premelting at the ice-SiO2 interface
Hochschulschrift Zugl.: Stuttgart, Univ., Diss., 2005
ISBN/Einband/Preis 978-3-8334-3980-3 kart. : EUR 29.00
3-8334-3980-7 kart. : EUR 29.00
EAN 9783833439803
Sprache(n) Englisch (eng)
Schlagwörter Eis ; Siliciumdioxid ; Grenzfläche ; Oberflächenschmelzen
DDC-Notation 530.417 [DDC22ger]
Sachgruppe(n) 530 Physik

Frankfurt Signatur: 2006 A 83943
Bestand: [Dieses Werk gibt es inhaltsgleich auch in digitaler Form.]
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Leipzig Signatur: 2006 A 95012
Bestand: [Dieses Werk gibt es inhaltsgleich auch in digitaler Form.]
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