Katalog der Deutschen Nationalbibliothek
Ergebnis der Suche nach: swiRef=042609976
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| Link zu diesem Datensatz | https://d-nb.info/968781578 |
| Art des Inhalts | Hochschulschrift |
| Titel | ECR-Plasmadiagnostik im System Ar-H2-N2-TMS und Charakterisierung der entstehenden SiCxNy: H-Schichten / vorgelegt von Ines Dani |
| Person(en) | Dani, Ines (Verfasser) |
| Zeitliche Einordnung | Erscheinungsdatum: 2002 |
| Umfang/Format | Online-Ressource, ca. 0,7 MB |
| Andere Ausgabe(n) | Erscheint auch als Druck-Ausgabe: Dani, Ines: ECR-Plasmadiagnostik im System Ar-H2-N2-TMS und Charakterisierung der entstehenden SiCxNy:H-Schichten |
| Hochschulschrift | Chemnitz, Techn. Univ., Diss., 2002 |
| Persistent Identifier | URN: urn:nbn:de:bsz:ch1-200201291 |
| URL | http://archiv.tu-chemnitz.de/pub/2002/0129/index.html (kostenfrei zugänglich) |
| Anmerkungen | Dateiformat: PDF |
| Schlagwörter | ECR-Beschichten ; Plasmadiagnostik ; Siliciumcarbid ; Siliciumnitrid ; Dünne Schicht ; Online-Publikation |
| Sachgruppe(n) | 29 Physik, Astronomie |
| Online-Zugriff | Archivobjekt öffnen |

