Katalog der Deutschen Nationalbibliothek
Ergebnis der Suche nach: tit all "Pattern Classification"
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| Link zu diesem Datensatz | https://d-nb.info/1317033655 |
| Titel | Shape prior guided defect pattern classification and segmentation in wafer bin maps / by Rui Wang, Songhao Wang, Ben Niu |
| Person(en) |
Wang, Rui (Verfasser) Wang, Songhao (Verfasser) Niu, Ben (Verfasser) |
| Organisation(en) | SpringerLink (Online service) (Sonstige) |
| Umfang/Format | 1 Online-Ressource. |
| Persistent Identifier |
URN: urn:nbn:de:101:1-2024012409200959185269 DOI: 10.1007/s10845-023-02242-w |
| URL | https://doi.org/10.1007/s10845-023-02242-w |
| Zeitliche Einordnung | Erscheinungsdatum: 2023 |
| DDC-Notation | 006.42 (maschinell ermittelte DDC-Kurznotation) |
| Sprache(n) | Englisch (eng) |
| Beziehungen | Enthalten in: Journal of intelligent manufacturing (7.11.2023: 1-12) |
| Sachgruppe(n) | 004 Informatik |
| Online-Zugriff | Archivobjekt öffnen |
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