Katalog der Deutschen Nationalbibliothek
Ergebnis der Suche nach: "Jan" and "Karsten"
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Link zu diesem Datensatz | https://d-nb.info/1215034083 |
Titel | Uncertainty analysis for the coefficient of band-to-band absorption of crystalline silicon / Carsten Schinke |
Person(en) | Schinke, Carsten (Verfasser) |
Verlag | Hannover : Gottfried Wilhelm Leibniz Universität Hannover - Hannover : Technische Informationsbibliothek (TIB) |
Zeitliche Einordnung | Erscheinungsdatum: 2015 |
Umfang/Format | Online-Ressource |
Persistent Identifier |
URN: urn:nbn:de:101:1-2020080306560300371170 DOI: 10.15488/31 |
URL | http://www.repo.uni-hannover.de/handle/123456789/49 (Verlag) (kostenfrei zugänglich) |
Sprache(n) | Englisch (eng) |
Anmerkungen | In: Schinke, Carsten; Peest, Peter Christian; Schmidt, Jan; Brendel, Rolf; Bothe, Karsten; Vogt, Malte R. et al.: Uncertainty analysis for the coefficient of band-to-band absorption of crystalline silicon. In: AIP Advances 5 (2015), Nr. 6. DOI: http://dx.doi.org/10.1063/1.4923379 |
DDC-Notation | 530.8 (maschinell ermittelte DDC-Kurznotation) |
Sachgruppe(n) | 530 Physik |
Online-Zugriff | Archivobjekt öffnen |
