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Link zu diesem Datensatz https://d-nb.info/1279170786
Titel Methods and Results of Power Cycling Tests for Semiconductor Power Devices / Christian Herold ; Gutachter: Josef Lutz, Andreas Lindemann, Thomas Basler ; Betreuer: Josef Lutz
Person(en) Herold, Christian (Verfasser)
Lutz, Josef (Gutachter)
Lutz, Josef (Akademischer Betreuer)
Lindemann, Andreas (Gutachter)
Basler, Thomas (Gutachter)
Verlag Chemnitz : Technische Universität Chemnitz
Zeitliche Einordnung Erscheinungsdatum: 2023
Umfang/Format Online-Ressource
Hochschulschrift Dissertation, Chemnitz, Technische Universität Chemnitz, 2022
Persistent Identifier URN: urn:nbn:de:bsz:ch1-qucosa2-814635
URL (kostenfrei zugänglich)
Sprache(n) Englisch (eng)
Schlagwörter Leistungshalbleiter* ; Lebensdauer* ; IGBT* ; Zuverlässigkeit* ; Elektrofahrzeug* ; Verbindungstechnik* ; Kraftfahrzeugelektronik* (*maschinell ermittelt)
DDC-Notation 621.317 (maschinell ermittelte DDC-Kurznotation)
Sachgruppe(n) 621.3 Elektrotechnik, Elektronik

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