Katalog der Deutschen Nationalbibliothek
Ergebnis der Suche nach: "Herbert"
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| Link zu diesem Datensatz | https://d-nb.info/1315379295 |
| Titel | Characterization of strain fields in Si1-xGex island structures by means of quantitative high-resolution electron microscopy / Anh Tuan Tham, Reinhard Otto, Wolfgang Neumann, Herbert Wawra, H. P. Strunk |
| Person(en) |
Tham, Anh Tuan (Verfasser) Otto, Reinhard (Verfasser) Neumann, Wolfgang (Verfasser) Wawra, Herbert (Verfasser) Strunk, H. P. (Verfasser) |
| Verlag | Berlin : Humboldt-Universität zu Berlin |
| Zeitliche Einordnung | Erscheinungsdatum: 2024 |
| Umfang/Format | Online-Ressource |
| Persistent Identifier |
URN: urn:nbn:de:kobv:11-110-18452/28642-3 DOI: 10.1017/s1431927603023328 |
| URL | http://edoc.hu-berlin.de/18452/28642 (Verlag) (kostenfrei zugänglich) |
| Sprache(n) | Englisch (eng) |
| Anmerkungen | In: Microscopy and microanalysis, Band 9, Ausgabe S03, Seite 274-275, 2023 |
| DDC-Notation | 530.4175 (maschinell ermittelte DDC-Kurznotation) |
| Sachgruppe(n) | 530 Physik |
| Online-Zugriff | Archivobjekt öffnen |
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