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Neuigkeiten Dienstag 18. November 2025: Die Lesesäle der Deutschen Nationalbibliothek in Frankfurt am Main öffnen wegen einer Personalversammlung erst ab 13 Uhr. // Tuesday 18 November 2025: The reading rooms of the German National Library in Frankfurt am Main will open at 13:00 due to a staff assembly.
 
 

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Titel YOLOv4-Based Semiconductor Wafer Notch Detection Using Deep Learning and Image Enhancement Algorithms / by Hao Wang, Hyo Jun Sim, Jong Jin Hwang, Sung Jin Kwak, Seung Jae Moon
Person(en) Wang, Hao (Verfasser)
Sim, Hyo Jun (Verfasser)
Hwang, Jong Jin (Verfasser)
Kwak, Sung Jin (Verfasser)
Moon, Seung Jae (Verfasser)
Organisation(en) SpringerLink (Online service) (Sonstige)
Umfang/Format 1 Online-Ressource.
Persistent Identifier URN: urn:nbn:de:101:1-2411250841326.426861713843
DOI: 10.1007/s12541-024-01092-7
URL https://doi.org/10.1007/s12541-024-01092-7
Zeitliche Einordnung Erscheinungsdatum: 2024
DDC-Notation 006.37 (maschinell ermittelte DDC-Kurznotation)
Sprache(n) Englisch (eng)
Beziehungen Enthalten in: International journal of precision engineering and manufacturing (Bd. 25, 16.8.2024, Nr. 9, date:9.2024: 1909-1916)
Sachgruppe(n) 004 Informatik

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