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Bücher
Link zu diesem Datensatz https://d-nb.info/1218552425
Art des Inhalts Hochschulschrift
Titel Contact related failure detection of semiconductor layer stacks using an acoustic emission test method / Marianne Unterreitmeier
Person(en) Unterreitmeier, Marianne (Verfasser)
Organisation(en) FAU University Press ein Imprint der Universität Erlangen-Nürnberg. Universitätsbibliothek (Verlag)
Verlag Erlangen : FAU University Press
Zeitliche Einordnung Erscheinungsdatum: 2020
Umfang/Format xxiv, 234 Seiten : Illustrationen, Diagramme ; 24 cm, 641 g
Hochschulschrift Dissertation, Friedrich-Alexander-Universität Erlangen-Nürnberg, 2019
ISBN/Einband/Preis 978-3-96147-305-2 Broschur : EUR 51.50 (DE), EUR 53.00 (AT)
3-96147-305-6
EAN 9783961473052
Sprache(n) Englisch (eng)
Beziehungen FAU Forschungen / Reihe B / Medizin, Naturwissenschaft, Technik ; Band 33
Schlagwörter Wafer ; Halbleiterschicht ; Schallemissionsanalyse ; Rissbildung ; Härteeindruck ; Werkstoffschädigung ; Halbleitertechnologie ; Kontaktieren
DDC-Notation 621.381520287 [DDC23ger]; 620.1127 [DDC23ger]
Sachgruppe(n) 621.3 Elektrotechnik, Elektronik ; 620 Ingenieurwissenschaften und Maschinenbau
Weiterführende Informationen Inhaltsverzeichnis

Frankfurt Signatur: 2020 A 68916
Bereitstellung in Frankfurt
Leipzig Signatur: 2020 A 74975
Bereitstellung in Leipzig




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