Katalog der Deutschen Nationalbibliothek
Ergebnis der Suche nach: "test"
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| Link zu diesem Datensatz | https://d-nb.info/gnd/16331827-X |
| Veranstaltung | VLSI Test Symposium (24 : 2006 : Berkeley, Calif.) |
| Andere Namen |
IEEE VLSI Test Symposium (24 : 2006 : Berkeley, Calif.) VTS (24 : 2006 : Berkeley, Calif.) |
| Zeit | 2006 |
| Land | USA (XD-US) |
| Geografischer Bezug | Veranstaltungsort: Berkeley, Calif. |
| Typ | Veranstaltung (vie) |

