Katalog der Deutschen Nationalbibliothek
Ergebnis der Suche nach: "11801109X"
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| Link zu diesem Datensatz | https://d-nb.info/931716160 |
| Titel | Testability of circuits derived from functional decision diagrams / Bernd Becker and Rolf Drechsler. Fachbereich Informatik, Universität Frankfurt |
| Person(en) |
Becker, Bernd (Verfasser) Drechsler, Rolf (Verfasser) |
| Verlag | Frankfurt [Main] : Fachbereich Informatik, Univ. |
| Zeitliche Einordnung | Erscheinungsdatum: 1993 |
| Umfang/Format | 14 S. : graph. Darst. ; 30 cm |
| ISBN/Einband/Preis | geh. |
| Beziehungen | Goethe-Universität Frankfurt am Main. Fachbereich Informatik: Interner Bericht ; 93,13 |
| Anmerkungen | Status nach VGG: vergriffen |
| Sachgruppe(n) | 28 Informatik, Datenverarbeitung |
| Frankfurt |
Signatur: 1993 B 14491
Bereitstellung in Frankfurt |
| Leipzig |
Signatur: 1993 B 14491
Bereitstellung in Leipzig |
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