Katalog der Deutschen Nationalbibliothek
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Link zu diesem Datensatz | https://d-nb.info/1047989166 |
Titel | Fringe pattern analysis for optical metrology : theory, algorithms, and applications / Manuel Servin, J. Antonio Quiroga and J. Moisés Padilla |
Person(en) |
Servín, Manuel (Verfasser) Antonio Quiroga, J. (Verfasser) Moisés Padilla, J. (Verfasser) |
Verlag | Weinheim : Wiley-VCH |
Zeitliche Einordnung | Erscheinungsdatum: 2014 |
Umfang/Format | XVI, 327 S. : Ill., graph. Darst. ; 25 cm |
Andere Ausgabe(n) | Erscheint auch als Online-Ausgabe: Servín, Manuel: Fringe Pattern Analysis for Optical Metrology |
ISBN/Einband/Preis |
978-3-527-41152-8 Pp. : EUR 129.00 (DE, freier Pr.), EUR 132.70 (AT, freier Pr.), sfr 174.00 (freier Pr.) 3-527-41152-6 |
Bestellnummer(n) | 1141152 000 |
EAN | 9783527411528 |
Sprache(n) | Englisch (eng) |
Anmerkungen | Literaturangaben |
Schlagwörter | Metrologie ; Optische Messtechnik |
DDC-Notation | 530.8 [DDC22ger] |
Sachgruppe(n) | 530 Physik ; 620 Ingenieurwissenschaften und Maschinenbau |
Weiterführende Informationen |
Inhaltsverzeichnis Inhaltstext |
Frankfurt |
Signatur: 2014 A 70920 Bestand: [Dieses Werk gibt es inhaltsgleich auch in digitaler Form.] Bereitstellung in Frankfurt |
Leipzig |
Signatur: 2014 A 63323 Bestand: [Dieses Werk gibt es inhaltsgleich auch in digitaler Form.] Bereitstellung in Leipzig |
