Katalog der Deutschen Nationalbibliothek
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Link zu diesem Datensatz | https://d-nb.info/1055909346 |
Titel | Fringe Pattern Analysis for Optical Metrology : Theory, Algorithms, and Applications / Manuel Servin ; J. Antonio Quiroga ; Moises Padilla |
Person(en) |
Servín, Manuel (Verfasser) Antonio Quiroga, J. (Verfasser) Padilla, Moises (Verfasser) |
Ausgabe | 1., Auflage |
Verlag | Weinheim : Wiley-VCH |
Zeitliche Einordnung | Erscheinungsdatum: 2014 |
Umfang/Format | Online-Ressource : 220 schw.-w. Ill. |
Andere Ausgabe(n) |
Erscheint auch als Druck-Ausgabe: ISBN: 978-3-527-41152-8 Erscheint auch als Druck-Ausgabe: Servín, Manuel: Fringe pattern analysis for optical metrology |
Persistent Identifier | URN: urn:nbn:de:101:1-201408181914 |
ISBN/Einband/Preis |
978-3-527-68108-2 3-527-68108-6 |
EAN | 9783527681082 |
Sprache(n) | Englisch (eng) |
Anmerkungen | Lizenzpflichtig |
Schlagwörter | Metrologie ; Optische Messtechnik |
DDC-Notation | 530.8 [DDC22ger] |
Sachgruppe(n) | 530 Physik ; 620 Ingenieurwissenschaften und Maschinenbau |
Online-Zugriff | Archivobjekt öffnen |
