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Ergebnis der Suche nach: "Thomas" and "White"

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Link zu diesem Datensatz https://d-nb.info/1363634909
Titel Comparative Study of Residual Stress and Defects in Single‐Crystalline (0001) AlN Wafers by Scanning Infrared Depolarization and White‐Beam X‐ray Topography
Person(en) Herms, Martin (Verfasser)
Kabukcuoglu, Merve (Verfasser)
Hartmann, Carsten (Verfasser)
Stöhr, Markus (Verfasser)
Wagner, Matthias (Verfasser)
Hamann, Elias (Verfasser)
Hänschke, Daniel (Verfasser)
Richter, Carsten (Verfasser)
Straubinger, Thomas (Verfasser)
Umfang/Format Online-Ressource (pdf)
Persistent Identifier URN: urn:nbn:de:101:1-2504211405353.028731399751
DOI: 10.1002/pssa.202400787
URL https://doi.org/10.1002/pssa.202400787
Zeitliche Einordnung Erscheinungsdatum: 20.04.2025
Sprache(n) Englisch (eng)
Beziehungen Enthalten in: Physica status solidi / A / Applications and materials science (20.04.2025. 7 S.)

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