Katalog der Deutschen Nationalbibliothek
Ergebnis der Suche nach: "test"
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| Link zu diesem Datensatz | https://d-nb.info/gnd/4723173-7 |
| Sachbegriff | Burn-in-Test |
| Quelle | Lex. Elektronik Mikroelektronik |
| Erläuterungen | Definition: Güter werden während des Tests höheren Belastungen (z.B. Temperatur oder Spannung) ausgesetzt als unter normalen Einsatzbedingungen, um die Testdauer zu verkürzen. |
| Synonyme | Einbrenntest |
| Oberbegriffe | Testen |
| DDC-Notation | 621.381548 |
| Systematik | 31.1c Mess-, Steuerungs- und Regelungstechnik ; 31.9b Elektronik, Nachrichtentechnik |
| Typ | Allgemeinbegriff (saz) |
| Thema in |
3 Publikationen
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