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Artikel
Link zu diesem Datensatz https://d-nb.info/1330685490
Titel An analysis of the symmetries in electron microscope images of a sloping dislocation and its application as a method for dislocation characterization
Person(en) Ingram, J. C. (Verfasser)
Strutt, P. R. (Verfasser)
Tzeng, Wen‐Shian (Verfasser)
Umfang/Format Online-Ressource (pdf)
Persistent Identifier URN: urn:nbn:de:101:1-2405250617154.303892289231
DOI: 10.1002/pssa.2210220227
URL https://doi.org/10.1002/pssa.2210220227
Zeitliche Einordnung Erscheinungsdatum: 16.02.2006
Sprache(n) Englisch (eng)
Beziehungen Enthalten in: Physica status solidi / A / Applied research (Bd. 22, 2006, Nr. 2: 599-608. 10 S.)

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