Katalog der Deutschen Nationalbibliothek
Ergebnis der Suche nach: "test"
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| Link zu diesem Datensatz | https://d-nb.info/gnd/1344824536 |
| Veranstaltung | IEEE Microelectronics Design & Test Symposium (33. : 2024 : Albany, NY) |
| Andere Namen |
Microelectronics Design and Test Symposium (33. : 2024 : Albany, NY) IEEE Microelectronic Design and Test Symposium (33. : 2024 : Albany, NY) IEEE MDTS (33. : 2024 : Albany, NY) MDTS (33. : 2024 : Albany, NY) |
| Zeit | 13.05.2024-15.05.2024 |
| Land | USA (XD-US) |
| Geografischer Bezug | Veranstaltungsort: Albany, NY |
| Beziehungen zu Organisationen |
Sponsor: Institute of Electrical and Electronics Engineers. Schenectady Section Sponsor: Institute of Electrical and Electronics Engineers. Region Northeastern USA |
| Typ | Veranstaltung (vie) |

