Katalog der Deutschen Nationalbibliothek
Ergebnis der Suche nach: "Gutowski"
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| Link zu diesem Datensatz | https://d-nb.info/122649532X |
| Titel | Spatially Resolved Characterization of Plastic Deformation Induced by Focused-Ion Beam Processing in Structured InGaN/GaN Layers / by R. Barabash, G. Ice, R. Kroger, H. Lohmeyer, K. Sebald, J. Gutowski, T. Bottcher, D. Hommel, W. Liu, J. S. Chung |
| Person(en) |
Barabash, R. (Verfasser) Ice, G. (Verfasser) Kroger, R. (Verfasser) Lohmeyer, H. (Verfasser) Sebald, K. (Verfasser) Gutowski, J. (Verfasser) Bottcher, T. (Verfasser) Hommel, D. (Verfasser) Liu, W. (Verfasser) Chung, J. S. (Verfasser) |
| Organisation(en) | SpringerLink (Online service) (Sonstige) |
| Umfang/Format | Online-Ressource : online resource. |
| Persistent Identifier |
URN: urn:nbn:de:101:1-2021020517582656052069 DOI: 10.1557/PROC-1020-GG01-07 |
| URL | https://doi.org/10.1557/PROC-1020-GG01-07 |
| Zeitliche Einordnung | Erscheinungsdatum: 2007 |
| DDC-Notation | 621 (maschinell ermittelte DDC-Kurznotation) |
| Sprache(n) | Englisch (eng) |
| Beziehungen | Enthalten in: Materials Research Society: MRS online proceedings library (Bd. 1020, 1.12.2007, Nr. 1, date:12.2007: 1-7) |
| Sachgruppe(n) | 620 Ingenieurwissenschaften und Maschinenbau |
| Online-Zugriff | Archivobjekt öffnen |
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