Katalog der Deutschen Nationalbibliothek
Ergebnis der Suche nach: tit all "Pattern Classification"
Treffer 273 von 350
|
|
| Link zu diesem Datensatz | https://d-nb.info/1367798396 |
| Titel | Enhanced wafer map defect pattern classification through stacking ensemble method and data augmentation integration / by Chiung-Jung Yang, Yu-Han Chen, Sun-Yuan Hsieh |
| Person(en) |
Yang, Chiung-Jung (Verfasser) Chen, Yu-Han (Verfasser) Hsieh, Sun-Yuan (Verfasser) |
| Organisation(en) | SpringerLink (Online service) (Sonstige) |
| Umfang/Format | 1 Online-Ressource. |
| Persistent Identifier |
URN: urn:nbn:de:101:1-2506042141331.127041449813 DOI: 10.1007/s11227-025-07113-0 |
| URL | https://doi.org/10.1007/s11227-025-07113-0 |
| Zeitliche Einordnung | Erscheinungsdatum: 2025 |
| DDC-Notation | 006.42 (maschinell ermittelte DDC-Kurznotation) |
| Sprache(n) | Englisch (eng) |
| Beziehungen | Enthalten in: The journal of supercomputing (Bd. 81, 22.3.2025, Nr. 5, date:4.2025: 1-31) |
| Sachgruppe(n) | 004 Informatik |
| Online-Zugriff | Archivobjekt öffnen |
Treffer 273 von 350
Administration
