Katalog der Deutschen Nationalbibliothek
Ergebnis der Suche nach: "Jan" and "Karsten"
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| Link zu diesem Datensatz | https://d-nb.info/1215760507 |
| Titel | Advances in contactless silicon defect and impurity diagnostics based on lifetime spectroscopy and infrared imaging / Jan Schmidt, Peter Pohl, Karsten Bothe, Rolf Brendel |
| Person(en) |
Schmidt, Jan (Verfasser) Pohl, Peter (Verfasser) Bothe, Karsten (Verfasser) Brendel, Rolf (Verfasser) |
| Verlag | Hannover : Gottfried Wilhelm Leibniz Universität Hannover - Hannover : Technische Informationsbibliothek (TIB) |
| Zeitliche Einordnung | Erscheinungsdatum: 2007 |
| Umfang/Format | Online-Ressource |
| Persistent Identifier |
URN: urn:nbn:de:101:1-2020081207292495524220 DOI: 10.15488/4039 |
| URL | https://www.repo.uni-hannover.de/handle/123456789/4073 (Verlag) (kostenfrei zugänglich) |
| Sprache(n) | Englisch (eng) |
| Anmerkungen | In: Schmidt, J.; Pohl, P.; Bothe, K.; Brendel, R.: Advances in contactless silicon defect and impurity diagnostics based on lifetime spectroscopy and infrared imaging. In: Advances in OptoElectronics 2007 (2007), 92842. DOI: https://doi.org/10.1155/2007/92842 |
| DDC-Notation | 537.622 (maschinell ermittelte DDC-Kurznotation) |
| Sachgruppe(n) | 530 Physik |
| Online-Zugriff | Archivobjekt öffnen |
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