Katalog der Deutschen Nationalbibliothek
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| Link zu diesem Datensatz | https://d-nb.info/1388313243 |
| Titel | Impact of Package Degradation on Short-Circuit Robustness and Temperature Stability during Application-Close Repetitive Switching of IGBTs / Christian Bäumler |
| Person(en) | Bäumler, Christian (Verfasser) |
| Organisation(en) | Universitätsbibliothek (Chemnitz) (Verlag) |
| Verlag | Chemnitz : Universitätsverlag Chemnitz |
| Zeitliche Einordnung | Erscheinungstermin: März 2026 |
| Umfang/Format | 246 Seiten : Illustrationen, Diagramme ; 21 cm, 362 g |
| Hochschulschrift | Dissertation, Technische Universität Chemnitz, 2025 |
| ISBN/Einband/Preis |
978-3-96100-299-3 : EUR 28.90 (DE), EUR 29.80 (AT), CHF 31.30 (freier Preis) 3-96100-299-1 |
| EAN | 9783961002993 |
| Sprache(n) | Englisch (eng) |
| Sachgruppe(n) | 621.3 Elektrotechnik, Elektronik |
| Weiterführende Informationen | Inhaltstext |
| Frankfurt | Vom Verlag gemeldete Neuerscheinung, Publikation noch nicht im Haus |
| Leipzig | Vom Verlag gemeldete Neuerscheinung, Publikation noch nicht im Haus |
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