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Titel Photoelektronenspektroskopie an Eisen-Silizium-Grenzflächenschichten und an Eisen-Silizium-Legierungen / vorgelegt von Roland Kilper
Person(en) Kilper, Roland (Verfasser)
Zeitliche Einordnung Erscheinungsdatum: 1996
Umfang/Format Online-Ressource (PDF)
Andere Ausgabe(n) Erscheint auch als Druck-Ausgabe: Kilper, Roland: Photoelektronenspektroskopie an Eisen-Silizium-Grenzflächenschichten und an Eisen-Silizium-Legierungen
Hochschulschrift Chemnitz, Techn. Univ., Diss., 1996
Persistent Identifier URN: urn:nbn:de:bsz:ch1-199700081
URL http://nbn-resolving.de/urn:nbn:de:bsz:ch1-199700081 (Verlag) (kostenfrei zugänglich)
Sprache(n) Deutsch (ger)
Anmerkungen Dateien in unterschiedlichen Formaten
Schlagwörter Eisenlegierung ; Siliciumlegierung ; Metallisches Glas ; Elektronische Eigenschaft ; Photoelektronenspektroskopie
Silicium ; Eisen ; Dünne Schicht ; Grenzfläche ; Elektronische Eigenschaft ; Photoelektronenspektroskopie
Sachgruppe(n) 530 Physik

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