Photovoltaic module reliability testing in the context of carrier-induced degradation

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Link zu diesem Datensatz	https://d-nb.info/1375486608
Titel	Photovoltaic module reliability testing in the context of carrier-induced degradation / Esther Fokuhl ; Gutachter: Thomas Mikolajick, Viktor Wesselak, Stefan Glunz
Person(en)	Fokuhl, Esther (Verfasser) Mikolajick, Thomas (Gutachter) Wesselak, Viktor (Gutachter) Glunz, Stefan (Gutachter)
Verlag	Nordhausen : Hochschule Nordhausen
Zeitliche Einordnung	Erscheinungsdatum: 2025
Umfang/Format	Online-Ressource, 215 Seiten (pdf)
Persistent Identifier	URN: urn:nbn:de:gbv:27-dbt-67201-0
URL	https://www.db-thueringen.de/receive/dbt_mods_00067201 (Verlag) (kostenfrei zugänglich)
Sprache(n)	Englisch (eng)
Beziehungen	Nordhäuser Hochschultexte - Schriftenreihe Ingenieurwissenschaften ; 7
Schlagwörter	Fotovoltaik Zuverlässigkeit* ; Degradation <Technik>* ; Fotovoltaik* ; Solarzelle* ; Polykristall* (*maschinell ermittelt)
DDC-Notation	621.31244 (maschinell ermittelte DDC-Kurznotation)
Sachgruppe(n)	621.3 Elektrotechnik, Elektronik

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