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Link zu diesem Datensatz https://d-nb.info/1229826629
Titel Undissociated Dislocations and Intermediate Defects in As+ Ion Damaged Silicon / by H. Foell, T. Y. Tan, W. Krakow
Person(en) Foell, H. (Verfasser)
Tan, T. Y. (Verfasser)
Krakow, W. (Verfasser)
Organisation(en) SpringerLink (Online service) (Sonstige)
Umfang/Format Online-Ressource : online resource.
Persistent Identifier URN: urn:nbn:de:101:1-2021032122305028396624
DOI: 10.1557/PROC-2-173
URL https://doi.org/10.1557/PROC-2-173
Zeitliche Einordnung Erscheinungsdatum: 1981
DDC-Notation 620.16 (maschinell ermittelte DDC-Kurznotation)
Sprache(n) Englisch (eng)
Beziehungen Enthalten in: Materials Research Society: MRS online proceedings library (Bd. 2, 15.2.2011, Nr. 1, date:12.1980: 173-177)
Sachgruppe(n) 620 Ingenieurwissenschaften und Maschinenbau

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