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Art des Inhalts Hochschulschrift
Titel Ultra precise measurement of optical aberrations for Sub-°Angström transmission electron microscopy / vorgelegt von Juri Barthel
Person(en) Barthel, Juri (Verfasser)
Zeitliche Einordnung Erscheinungsdatum: 2007
Umfang/Format 233 Bl. : Ill., graph. Darst. ; 30 cm
Andere Ausgabe(n) Erscheint auch als Online-Ausgabe: Barthel, Juri: Ultra precise measurement of optical aberrations for Sub-°Angström transmission electron microscopy
Hochschulschrift Aachen, Techn. Hochsch., Diss., 2007 (Nicht für den Austausch)
Sprache(n) Englisch (eng)
Schlagwörter Abbildungsfehler ; Durchstrahlungselektronenmikroskopie ; Hochauflösendes Verfahren
DDC-Notation 539.140287 [DDC22ger]; 502.825 [DDC22ger]
Sachgruppe(n) 530 Physik

Frankfurt Signatur: 2008 B 20964
Bestand: [Dieses Werk gibt es inhaltsgleich auch in digitaler Form.]
Bereitstellung in Frankfurt
Leipzig Signatur: 2008 B 30793
Bestand: [Dieses Werk gibt es inhaltsgleich auch in digitaler Form.]
Bereitstellung in Leipzig




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