Katalog der Deutschen Nationalbibliothek

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Bücher
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Art des Inhalts Hochschulschrift
Titel Quantitative in-situ particle characterization using focused beam reflectance measurements / Norbert Kail
Person(en) Kail, Norbert (Verfasser)
Ausgabe Als Ms. gedr.
Verlag Düsseldorf : VDI-Verl.
Zeitliche Einordnung Erscheinungsdatum: 2009
Umfang/Format XXII, 187 S. : Ill., graph. Darst. ; 21 cm
Hochschulschrift Zugl.: Aachen, Techn. Hochsch., Diss.
ISBN/Einband/Preis 978-3-18-389803-9 kart. : EUR 65.00 (nicht im Sortimentsbuchh.), EUR 58.50 (VDI-Mitgliederpr.)
Sprache(n) Englisch (eng)
Beziehungen Verein Deutscher Ingenieure: Fortschrittberichte VDI / Reihe 3 / Verfahrenstechnik ; Nr. 898
Berichte aus dem Lehrstuhl für Prozesstechnik, RWTH Aachen
Schlagwörter Teilchenmesstechnik ; Reflektometrie ; Laserstrahlung ; Fokussierung ; Korngrößenanalyse ; Online-Messung
DDC-Notation 660.0287 [DDC22ger]; 620.430287 [DDC22ger]
Sachgruppe(n) 660 Technische Chemie ; 620 Ingenieurwissenschaften und Maschinenbau
Weiterführende Informationen Inhaltsverzeichnis

Frankfurt Signatur: 2008 A 120820
Bereitstellung in Frankfurt
Leipzig Signatur: 2009 A 55588
Bereitstellung in Leipzig




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