Katalog der Deutschen Nationalbibliothek

Neuigkeiten Der Multimedia-Zeitschriftenlesesaal und der Kartenlesesaal in Leipzig sind vom 30.10. bis 03.11. geschlossen. // The multimedia/periodical reading room and the map reading room in Leipzig are closed from 30.10 to 03.11.
 
Neuigkeiten Leipzig: Freitag, 31. Oktober 2025: Die Deutsche Nationalbibliothek in Leipzig ist geschlossen. Die Ausstellungen des Deutschen Buch- und Schriftmuseums sind von 10 bis 18 Uhr geöffnet. // Friday, 31 October 2025: The German National Library in Leipzig will be closed. The exhibitions of the German Museum of Books and Writing will open from 10:00 to 18:00.
 
 

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Art des Inhalts Hochschulschrift
Titel Großflächige Topographiemessungen mit einem Weißlichtinterferenzmikroskop und einem metrologischen Rasterkraftmikroskop / Yiting Wu ; Gutachter: Tino Hausotte, Eberhard Manske ; Betreuer: Tino Hausotte ; Herausgeber: Jörg Franke, Nico Hanenkamp, Tino Hausotte, Marion Merklein, Michael Schmidt, Sandro Wartzack
Person(en) Wu, Yiting (Verfasser)
Hausotte, Tino (Akademischer Betreuer)
Hausotte, Tino (Gutachter)
Manske, Eberhard (Gutachter)
Franke, Jörg (Herausgeber)
Hanenkamp, Nico (Herausgeber)
Hausotte, Tino (Herausgeber)
Merklein, Marion (Herausgeber)
Schmidt, Michael (Herausgeber)
Wartzack, Sandro (Herausgeber)
Organisation(en) FAU University Press ein Imprint der Universität Erlangen-Nürnberg. Universitätsbibliothek (Verlag)
Verlag Erlangen : FAU University Press
Zeitliche Einordnung Erscheinungsdatum: 2022
Umfang/Format Online-Ressource (pdf)
Andere Ausgabe(n) Erscheint auch als Druck-Ausgabe: Wu, Yiting: Großflächige Topographiemessungen mit einem Weißlichtinterferenzmikroskop und einem metrologischen Rasterkraftmikroskop
Hochschulschrift Dissertation, Erlangen, Friedrich-Alexander-Universität Erlangen-Nürnberg (FAU), 2021
Persistent Identifier URN: urn:nbn:de:bvb:29-opus4-189949
DOI: 10.25593/978-3-96147-514-8
URL https://opus4.kobv.de/opus4-fau/frontdoor/index/index/docId/18994 (Verlag) (kostenfrei zugänglich)
Sprache(n) Deutsch (ger)
Beziehungen FAU Studien aus dem Maschinenbau ; 390
Anmerkungen In: mb.fau.de/diss
Schlagwörter Messtechnik ; Erweiterung ; Nanometerbereich ; Mikrometerbereich ; Oberflächenstruktur ; Weißlichtinterferometer ; Mikroskop ; Rasterkraftmikroskop
DDC-Notation 621.0287 [DDC23ger]
Sachgruppe(n) 620 Ingenieurwissenschaften und Maschinenbau

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