Katalog der Deutschen Nationalbibliothek
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Link zu diesem Datensatz | https://d-nb.info/1293643211 |
Art des Inhalts | Hochschulschrift |
Titel | Beitrag zur Analyse des elektrischen Verhaltens von hoch-sperrenden rückwärts leitfähigen Insulated Gate Bipolar Transistoren / Daniel Wigger ; Gutachter: Hans-Günter Eckel, Josef Lutz, Eberhard Ulrich Krafft |
Person(en) |
Wigger, Daniel (Verfasser) Eckel, Hans-Günter (Gutachter) Lutz, Josef (Gutachter) Krafft, Eberhard Ulrich (Gutachter) |
Verlag | Rostock : Universität Rostock |
Zeitliche Einordnung | Erscheinungsdatum: 2015 |
Umfang/Format | Online-Ressource (pdf) |
Andere Ausgabe(n) | Erscheint auch als Druck-Ausgabe: Wigger, Daniel: Beitrag zur Analyse des elektrischen Verhaltens von hochsperrenden rückwärts leitfähigen Insulated Gate Bipolar Transistoren |
Hochschulschrift | Dissertation, Rostock, Universität Rostock. Fakultät für Informatik und Elektrotechnik, 2015 |
Persistent Identifier |
URN: urn:nbn:de:gbv:28-diss2015-0159-9 DOI: 10.18453/rosdok_id00001609 |
URL | (kostenfrei zugänglich) |
Sprache(n) | Deutsch (ger) |
Schlagwörter | IGBT* ; Schaltverhalten* (*maschinell ermittelt) |
DDC-Notation | 621.381528 [DDC22ger] |
Sachgruppe(n) | 621.3 Elektrotechnik, Elektronik |
Online-Zugriff | Archivobjekt öffnen |
