Katalog der Deutschen Nationalbibliothek
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| Link zu diesem Datensatz | https://d-nb.info/942970268 |
| Titel | Efficient test generation for bridging faults in CMOS ICs based on layout analysis / Gesellschaft für Mathematik und Datenverarbeitung mbH. Marco Kley ... [Verantw. für dieses H.: Heinrich Theodor Vierhaus] |
| Person(en) |
Kley, Marco (Mitwirkender) Vierhaus, Heinrich Theodor (Herausgeber) |
| Verlag | Sankt Augustin : GMD |
| Zeitliche Einordnung | Erscheinungsdatum: 1994 |
| Umfang/Format | 18 S. : graph. Darst. ; 30 cm |
| ISBN/Einband/Preis | kart. : DM 15.00 |
| Beziehungen | Gesellschaft für Mathematik und Datenverarbeitung: Arbeitspapiere der GMD ; Nr. 878 |
| Anmerkungen |
Literaturverz. S. 16 - 18 Status nach VGG: vergriffen |
| Sachgruppe(n) | 28 Informatik, Datenverarbeitung ; 37 Elektrotechnik |
| Frankfurt |
Signatur: 1994 B 23176
Bereitstellung in Frankfurt |
| Leipzig |
Signatur: 1994 B 23176
Bereitstellung in Leipzig |
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