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Sachbegriffe
Link zu diesem Datensatz https://d-nb.info/gnd/4274473-8
Sachbegriff Rasterkraftmikroskopie
Quelle B 2006 (online)
Synonyme Kraftmikroskopie
AFM (Abkürzung)
Atomic force microscopy
RKM (Abkürzung)
SFM (Abkürzung)
Scanning force microscopy
Oberbegriffe Rastersondenmikroskopie
DDC-Notation 502.82
570.282
Systematik 21.3 Elektrizität, Magnetismus, Optik
Typ Allgemeinbegriff (saz)
Andere Normdaten LCSH: Atomic force microscopy
RAMEAU: Microscopie à force atomique
Untergeordnet 1 Datensatz
  1. High speed atomic force microscopy
    Rasterkraftmikroskopie
Thema in 448 Publikationen
  1. Nanoskalige Untersuchungen von Polymer-basierten Nanopartikeln in flüssiger Umgebung unter Verwendung von Rasterkraftmikroskopie und Plasmonen-verstärkter Raman-Spektroskopie
    Wang, Xinyue. - Jena : Friedrich-Schiller-Universität Jena, 2025
  2. Charakterisierung von Mikrokugeln auf der Basis von AFM-Oberflächenscans
    Oertel, Erik. - Ilmenau : TU Ilmenau, 2024
  3. ...
Maschinell verknüpft mit 131 Publikationen
  1. Development of new atomic force microscopy methods to investigate interfaces of semiconductor materials
    Rohrbeck, Pascal Niko. - Mainz : Universitätsbibliothek der Johannes Gutenberg-Universität Mainz, 2025
  2. Mechanics and electrics of electrolyzer materials - a micro- and nanoscale analysis
    Borowec, Julian. - Aachen : Universitätsbibliothek der RWTH Aachen, 2025
  3. ...





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