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Bücher
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Art des Inhalts Hochschulschrift
Titel On the test complexity of VLSI systems / von Hongzhong Wu
Person(en) Wu, Hongzhong (Verfasser)
Zeitliche Einordnung Erscheinungsdatum: 1994
Umfang/Format X, 136 S. : graph. Darst. ; 30 cm
Andere Ausgabe(n) Erscheint auch als Online-Ausgabe: On the test complexity of VLSI systems
Hochschulschrift Saarbrücken, Univ., Diss., 1994
Sprache(n) Englisch (eng)
Schlagwörter VLSI ; Schaltnetz ; Baum <Mathematik> ; Testbarkeit ; Komplexität
DDC-Notation 621.381537 [DDC22ger]
Sachgruppe(n) 28 Informatik, Datenverarbeitung ; 37 Elektrotechnik
Weiterführende Informationen Inhaltsverzeichnis

Frankfurt Signatur: H 1994 B 2588
Bestand: [Dieses Werk gibt es inhaltsgleich auch in digitaler Form.]
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Leipzig Signatur: H 1994 B 2588
Bestand: [Dieses Werk gibt es inhaltsgleich auch in digitaler Form.]
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