Katalog der Deutschen Nationalbibliothek

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Art des Inhalts Hochschulschrift
Titel Selbsttest und Fehlertoleranz mit zugelassener milder Degradation in integrierten CMOS-Sensorsystemen / von Dirk Weiler
Person(en) Weiler, Dirk (Verfasser)
Zeitliche Einordnung Erscheinungsdatum: 2001
Umfang/Format Online-Ressource, ca. 1,7 MB
Andere Ausgabe(n) Erscheint auch als Druck-Ausgabe: Weiler, Dirk: Selbsttest und Fehlertoleranz mit zugelassener milder Degradation in integrierten CMOS-Sensorsystemen
Hochschulschrift Duisburg, Univ., Diss., 2001
Persistent Identifier URN: urn:nbn:de:hbz:464-20061017-113835-2
URL http://duepublico.uni-duisburg-essen.de/servlets/DerivateServlet/Derivate-5086/Dissertation_gesamt.pdf (Verlag) (kostenfrei zugänglich)
http://duepublico.uni-duisburg-essen.de/servlets/DocumentServlet?id=5086 (Verlag)
http://purl.oclc.org/NET/duett-06212001-115638 (Verlag)
Schlagwörter Integrierter Sensor ; CMOS-Schaltung ; Selbsttest ; Korrektur ; Fehlertoleranz ; Degradation <Technik>
DDC-Notation 621.381520287 [DDC22ger]
Sachgruppe(n) 620 Ingenieurwissenschaften und Maschinenbau

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