Katalog der Deutschen Nationalbibliothek
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| Link zu diesem Datensatz | https://d-nb.info/1373847670 |
| Art des Inhalts | Hochschulschrift |
| Titel | Characterization, Analysis, and Modeling of Dynamic Radio-Frequency Large-Signal Operating Limits, and Long-Term Reliability and Degradation of Silicon-Germanium Heterojunction Bipolar Transistors / Christoph Weimer |
| Person(en) | Weimer, Christoph (Verfasser) |
| Verlag | Dresden : Jörg Vogt Verlag |
| Zeitliche Einordnung | Erscheinungsdatum: 2025 |
| Umfang/Format | Online-Ressource (pdf) |
| Hochschulschrift | Dissertation, Dresden, TU Dresden, 2024 |
| Persistent Identifier | URN: urn:nbn:de:101:1-2508141555397.187548129766 |
| URL | https://www.vogtverlag.de/buecher/9783959470773.html (Verlag) |
| ISBN/Einband/Preis | 978-3-95947-077-3 |
| Sprache(n) | Englisch (eng) |
| Anmerkungen | Lizenzpflichtig |
| Schlagwörter | Germanium* ; Degradation <Technik>* ; Silicium* ; Heterobipolartransistor* ; HEMT* ; Leistungsverstärker* (*maschinell ermittelt) |
| DDC-Notation | 621.381528 (maschinell ermittelte DDC-Kurznotation) |
| Sachgruppe(n) | 621.3 Elektrotechnik, Elektronik |
| Online-Zugriff | Archivobjekt öffnen |
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