Katalog der Deutschen Nationalbibliothek

Neuigkeiten Frankfurt: Die Servicetheke Frankfurt ist heute nur bis 17 Uhr besetzt. Bitte beachten Sie dies für Anmeldung und Ausleihe von Sondermaterialien.

Frankfurt: The Frankfurt service desk is only open until 5 p.m. today. Please note this when registering and borrowing special materials.
 
Neuigkeiten

Leichte Bedienung, intuitive Suche: Die Betaversion unseres neuen Katalogs ist online! → Zur Betaversion des neuen DNB-Katalogs

 
 

Ergebnis der Suche nach: "Machine Learning"

Zurück zur Trefferliste


Treffer 40642 von 40662 < < > <



Artikel
Link zu diesem Datensatz https://d-nb.info/1346284261
Titel X-Detect: explainable adversarial patch detection for object detectors in retail / by Omer Hofman, Amit Giloni, Yarin Hayun, Ikuya Morikawa, Toshiya Shimizu, Yuval Elovici, Asaf Shabtai
Person(en) Hofman, Omer (Verfasser)
Giloni, Amit (Verfasser)
Hayun, Yarin (Verfasser)
Morikawa, Ikuya (Verfasser)
Shimizu, Toshiya (Verfasser)
Elovici, Yuval (Verfasser)
Shabtai, Asaf (Verfasser)
Organisation(en) SpringerLink (Online service) (Sonstige)
Umfang/Format 1 Online-Ressource.
Persistent Identifier URN: urn:nbn:de:101:1-2410272129243.093415452555
DOI: 10.1007/s10994-024-06548-5
URL https://doi.org/10.1007/s10994-024-06548-5
Zeitliche Einordnung Erscheinungsdatum: 2024
DDC-Notation 006.37 (maschinell ermittelte DDC-Kurznotation)
Sprache(n) Englisch (eng)
Beziehungen Enthalten in: Machine learning (Bd. 113, 19.6.2024, Nr. 9, date:9.2024: 6273-6292)
Sachgruppe(n) 004 Informatik

Online-Zugriff Archivobjekt öffnen




Treffer 40642 von 40662
< < > <




Aktionen

Aktionen


E-Mail-IconKorrekturanfrage

E-Mail-IconAdministration