Katalog der Deutschen Nationalbibliothek
Ergebnis der Suche nach: "Machine Learning"
Treffer 408 von 12706
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| Link zu diesem Datensatz | https://d-nb.info/1363145827 |
| Titel | Observational and experimental insights into machine learning-based defect classification in wafers / by Kamal Taha |
| Person(en) | Taha, Kamal (Verfasser) |
| Organisation(en) | SpringerLink (Online service) (Sonstige) |
| Umfang/Format | 1 Online-Ressource. |
| Persistent Identifier |
URN: urn:nbn:de:101:1-2504152120027.567466332470 DOI: 10.1007/s10845-024-02521-0 |
| URL | https://doi.org/10.1007/s10845-024-02521-0 |
| Zeitliche Einordnung | Erscheinungsdatum: 2025 |
| DDC-Notation | 621.38152 (maschinell ermittelte DDC-Kurznotation) |
| Sprache(n) | Englisch (eng) |
| Beziehungen | Enthalten in: Journal of intelligent manufacturing (25.1.2025: 1-51) |
| Sachgruppe(n) | 621.3 Elektrotechnik, Elektronik |
| Online-Zugriff | Archivobjekt öffnen |
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