Katalog der Deutschen Nationalbibliothek

Neuigkeiten

Leichte Bedienung, intuitive Suche: Die Betaversion unseres neuen Katalogs ist online! → Zur Betaversion des neuen DNB-Katalogs

 
Neuigkeiten Wegen Wartungsarbeiten am Mittwoch, 10. Februar 2026 kann es zwischen 07:30 und 08:30 Uhr zu Unterbrechungen unserer Dienste kommen. // Due to maintenance work on Wednesday, 04 February 2026, there may be interruptions to our services between 07:30 and 08:30.
 
 

Ergebnis der Suche nach: "Machine Learning"



Treffer 44222 von 44516 < < > <



Artikel
Link zu diesem Datensatz https://d-nb.info/1353894606
Titel Utilising unsupervised machine learning and IoT for cost-effective anomaly detection in multi-layer wire arc additive manufacturing / by Giulio Mattera, Emily W. Yap, Joseph Polden, Evan Brown, Luigi Nele, Stephen Van Duin
Person(en) Mattera, Giulio (Verfasser)
Yap, Emily W. (Verfasser)
Polden, Joseph (Verfasser)
Brown, Evan (Verfasser)
Nele, Luigi (Verfasser)
Duin, Stephen Van (Verfasser)
Organisation(en) SpringerLink (Online service) (Sonstige)
Umfang/Format 1 Online-Ressource.
Persistent Identifier URN: urn:nbn:de:101:1-2501202102535.981185487622
DOI: 10.1007/s00170-024-14648-8
URL https://doi.org/10.1007/s00170-024-14648-8
Zeitliche Einordnung Erscheinungsdatum: 2024
DDC-Notation 006.31 (maschinell ermittelte DDC-Kurznotation)
Sprache(n) Englisch (eng)
Beziehungen Enthalten in: The international journal of advanced manufacturing technology (Bd. 135, 24.10.2024, Nr. 5-6, date:11.2024: 2957-2974)
Sachgruppe(n) 004 Informatik

Online-Zugriff Archivobjekt öffnen




Treffer 44222 von 44516
< < > <


E-Mail-IconAdministration