Katalog der Deutschen Nationalbibliothek
Ergebnis der Suche nach: "test"
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| Link zu diesem Datensatz | https://d-nb.info/gnd/1298297370 |
| Veranstaltung | International Conference on Microelectronic Test Structures (35. : 2023 : Tokio) |
| Andere Namen |
IEEE International Conference on Microelectronic Test Structures (35. : 2023 : Tokio) International Conference on Microelectronic Test Structure (35. : 2023 : Tokio) ICMTS (35. : 2023 : Tokio) ICMTS Conference (35. : 2023 : Tokio) 35th International Conference on Microelectronic Test Structures, 35th ICMTS Conference, Tokyo, Japan, March 27-30, 2023 |
| Quelle | Homepage (Stand: 04.08.2023): http://icmts.if.t.u-tokyo.ac.jp/icmts.if.t.u-tokyo.ac.jp_8080/index.html |
| Zeit | 27.03.2023-30.03.2023 |
| Land | Japan (XB-JP) |
| Geografischer Bezug | Veranstaltungsort: Tokio |
| Beziehungen zu Organisationen |
Sponsor: Institute of Electrical and Electronics Engineers Sponsor: IEEE Electron Devices Society |
| Typ | Veranstaltung (vie) |

