Katalog der Deutschen Nationalbibliothek
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| Link zu diesem Datensatz | https://d-nb.info/940603985 |
| Art des Inhalts | Hochschulschrift |
| Titel | Elektromagnetische Rückwirkung der Messumgebung in der EMV Mess- und Prüftechnik / von Siegbert Kunz |
| Person(en) | Kunz, Siegbert (Verfasser) |
| Zeitliche Einordnung | Erscheinungsdatum: 1993 |
| Umfang/Format | VII, 143 Bl. : Ill., graph. Darst. ; 30 cm |
| Hochschulschrift | Karlsruhe, Univ., Diss., 1993 (Nur beschränkt für den Austausch) |
| Sprache(n) | Deutsch (ger) |
| Schlagwörter | Elektromagnetische Verträglichkeit ; Messort ; Umgebungseinfluss |
| Sachgruppe(n) | 37 Elektrotechnik |
| Weiterführende Informationen | Inhaltsverzeichnis |
| Frankfurt |
Signatur: H 1994 B 225
Bereitstellung in Frankfurt |
| Leipzig |
Signatur: H 1994 B 225
Bereitstellung in Leipzig |
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