Katalog der Deutschen Nationalbibliothek
Ergebnis der Suche nach: dcs=530.4*
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| Link zu diesem Datensatz | https://d-nb.info/1180443330 |
| Titel | Scanning tunneling potentiometry at nanoscale defects in thin films / Felix Lüpke |
| Person(en) | Lüpke, Felix (Verfasser) |
| Verlag | Jülich : Forschungszentrum Jülich GmbH |
| Zeitliche Einordnung | Erscheinungsdatum: [2018] |
| Umfang/Format | iv, 144 Seiten : Illustrationen ; 24 cm |
| ISBN/Einband/Preis | 978-3-95806-361-7 Broschur |
| Sprache(n) | Englisch (eng) |
| Beziehungen | Forschungszentrum Jülich: Schriften des Forschungszentrums Jülich / Reihe Schlüsseltechnologien ; Band 185 |
| Schlagwörter | Dünne Schicht ; Rastertunnelmikroskopie ; Potentiometrie |
| DDC-Notation | 530.4175 [DDC23ger] |
| Sachgruppe(n) | 530 Physik ; 540 Chemie |
| Weiterführende Informationen | Inhaltsverzeichnis |
| Frankfurt |
Signatur: 2019 A 20564
Bereitstellung in Frankfurt |
| Leipzig |
Signatur: 2019 A 31858
Bereitstellung in Leipzig |
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