Katalog der Deutschen Nationalbibliothek
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| Link zu diesem Datensatz | https://d-nb.info/957361572 |
| Art des Inhalts | Hochschulschrift |
| Titel | A new apparatus for the in-situ X-ray characterization of thin layers / von Ulrich Niggemeier |
| Person(en) | Niggemeier, Ulrich (Verfasser) |
| Ausgabe | [Mikrofiche-Ausg.] |
| Sekundärausgabe | Mikrofiche-Ausg.: Marburg : Tectum-Verl., 1999. 2 Mikrofiches : 24x - ISBN: 3-8288-0731-3 in Umschlag : DM 68.00 (freier Pr.), S 490.00 (freier Pr.), sfr 68.00 (freier Pr.) |
| Zeitliche Einordnung | Erscheinungsdatum: 1999 |
| Umfang/Format | 104 S. : graph. Darst. |
| Hochschulschrift | Zugl.: Paderborn, Univ., Diss., 1999 |
| Sprache(n) | Englisch (eng) |
| Beziehungen | Edition Wissenschaft / Reihe Physik ; Bd. 88 |
| Schlagwörter | Dünne Schicht ; Mesoskopisches System ; Röntgenbeugung ; Mikroform |
| Sachgruppe(n) | 29 Physik, Astronomie |
| Frankfurt |
Signatur: 1999 MF 367
Bereitstellung in Frankfurt |
| Leipzig |
Signatur: 1999 MF 367
Bereitstellung in Leipzig |
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