Surface Oxygen Vacancies: Dynamics of Photo‐Induced Surface Oxygen Vacancies in Metal‐Oxide Semiconductors Studied Under Ambient Conditions (Adv. Sci. 22/2019)

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Titel	Surface Oxygen Vacancies: Dynamics of Photo‐Induced Surface Oxygen Vacancies in Metal‐Oxide Semiconductors Studied Under Ambient Conditions (Adv. Sci. 22/2019)
Person(en)	Glass, Daniel (Verfasser) Cortés, Emiliano (Verfasser) Ben‐Jaber, Sultan (Verfasser) Brick, Thomas (Verfasser) Peveler, William J. (Verfasser) Blackman, Christopher S. (Verfasser) Howle, Christopher R. (Verfasser) Quesada‐Cabrera, Raul (Verfasser) Parkin, Ivan P. (Verfasser) Maier, Stefan A. (Verfasser)
Umfang/Format	Online-Ressource (pdf)
Persistent Identifier	URN: urn:nbn:de:101:1-2022080808193778654480 DOI: 10.1002/advs.201970132
URL	https://doi.org/10.1002/advs.201970132
Zeitliche Einordnung	Erscheinungsdatum: 20.11.2019
Sprache(n)	Englisch (eng)
Beziehungen	Enthalten in: Advanced science (Bd. 6, 2019, Nr. 22. 1 S.)

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