Katalog der Deutschen Nationalbibliothek
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| Link zu diesem Datensatz | https://d-nb.info/1122350333 |
| Art des Inhalts | Hochschulschrift |
| Titel | Eigenspannungsmessungen an einkristallinen und polykristallinen Materialien mittels digitaler Bildkorrelation und Focused Ion Beam / Markus Krottenthaler ; Gutachter: Mathias Göken, Chris Eberl |
| Person(en) |
Krottenthaler, Markus (Verfasser) Göken, Mathias (Gutachter) Eberl, Chris (Gutachter) |
| Organisation(en) | FAU University Press ein Imprint der Universität Erlangen-Nürnberg. Universitätsbibliothek (Verlag) |
| Verlag | Erlangen : FAU University Press |
| Zeitliche Einordnung | Erscheinungsdatum: 2016 |
| Umfang/Format | Online-Ressource |
| Andere Ausgabe(n) | Erscheint auch als Druck-Ausgabe: Krottenthaler, Markus: Eigenspannungsmessungen an einkristallinen und polykristallinen Materialien mittels digitaler Bildkorrelation und Focused Ion Beam |
| Hochschulschrift | Dissertation, Erlangen, Friedrich-Alexander-Universität Erlangen-Nürnberg (FAU), 2016 |
| Persistent Identifier | URN: urn:nbn:de:bvb:29-opus4-79521 |
| URL | https://opus4.kobv.de/opus4-fau/frontdoor/index/index/docId/7952 (Verlag) (kostenfrei zugänglich) |
| Sprache(n) | Deutsch (ger) |
| Beziehungen | FAU Studien Materialwissenschaft und Werkstofftechnik ; 11 |
| Schlagwörter | Eigenspannung ; Elastizität ; Anisotropie ; Bildkorrelation ; Ionenstrahlanalyse ; Nickellegierung ; Schutzschicht ; Kohlenstoff ; Amorpher Zustand ; Metallisches Glas |
| DDC-Notation | 620.1123 [DDC22ger] |
| Sachgruppe(n) | 620 Ingenieurwissenschaften und Maschinenbau |
| Online-Zugriff | Archivobjekt öffnen |
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