Katalog der Deutschen Nationalbibliothek
Ergebnis der Suche nach: Malino*
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| Link zu diesem Datensatz | https://d-nb.info/1296816494 |
| Titel | Observation of individual dislocations in 6H and 4H SiC by means of back‐reflection methods of X‐ray diffraction topography |
| Person(en) |
Wierzchowski, W. (Verfasser) Wieteska, K. (Verfasser) Balcer, T. (Verfasser) Malinowska, A. (Verfasser) Graeff, W. (Verfasser) Hofman, W. (Verfasser) |
| Umfang/Format | Online-Ressource (pdf) |
| Persistent Identifier |
URN: urn:nbn:de:101:1-2023072105134037787352 DOI: 10.1002/crat.200711032 |
| URL | https://doi.org/10.1002/crat.200711032 |
| Zeitliche Einordnung | Erscheinungsdatum: 09.11.2007 |
| Sprache(n) | Englisch (eng) |
| Beziehungen | Enthalten in: Crystal research and technology (Bd. 42, 2007, Nr. 12: 1359-1363. 5 S.) |
| Online-Zugriff | Archivobjekt öffnen |

