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Ergebnis der Suche nach: tit all "Geometry of Data"
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| Link zu diesem Datensatz | https://d-nb.info/1131595742 |
| Titel | Measurements of electrophysical properties of metal microcontacts using fractal geometry methods for the analysis of atomic-force-microscopy data / by S. V. Kutrovskaya, A. A. Antipov, S. M. Arakelian, A. O. Kucherik, A. V. Osipov |
| Person(en) |
Kutrovskaya, S. V. (Verfasser) Antipov, A. A. (Sonstige) Arakelian, S. M. (Sonstige) Kucherik, A. O. (Sonstige) Osipov, A. V. (Sonstige) |
| Organisation(en) | SpringerLink (Online service) (Sonstige) |
| Umfang/Format | Online-Ressource : online resource. |
| Persistent Identifier |
URN: urn:nbn:de:1111-201705082972 DOI: 10.1134/S1027451017010153 |
| URL | http://dx.doi.org/10.1134/S1027451017010153 |
| Zeitliche Einordnung | Erscheinungsdatum: 2017 |
| Sprache(n) | Englisch (eng) |
| Beziehungen | Enthalten in: Journal of surface investigation (Bd. 11, 27.4.2017, Nr. 2, date:3.2017: 333-338) |
| Sachgruppe(n) | 530 Physik |
| Online-Zugriff | Archivobjekt öffnen |
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