Katalog der Deutschen Nationalbibliothek
Ergebnis der Suche nach: "Machine Learning"
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| Link zu diesem Datensatz | https://d-nb.info/1373695161 |
| Titel | Artificial Intelligence to Improve the Defect Detection Capabilities of Ultrasonic Microscopy / Arya Sukumaran Nair ; Gutachter: Elfgard Kühnicke, Konstantin Schekotihin, Gerald Gerlach |
| Person(en) |
Sukumaran Nair, Arya (Verfasser) Kühnicke, Elfgard (Gutachter) Schekotihin, Konstantin (Gutachter) Gerlach, Gerald (Gutachter) |
| Verlag | Dresden : Technische Universität Dresden |
| Zeitliche Einordnung | Erscheinungsdatum: 2025 |
| Umfang/Format | Online-Ressource |
| Hochschulschrift | Dissertation, Dresden, Technische Universität Dresden, 2025 |
| Persistent Identifier | URN: urn:nbn:de:bsz:14-qucosa2-979956 |
| URL | (kostenfrei zugänglich) |
| Sprache(n) | Englisch (eng) |
| Schlagwörter | Maschinelles Lernen* ; Künstliche Intelligenz* ; Bildverarbeitung* ; Merkmalsextraktion* ; Ultraschallprüfung* (*maschinell ermittelt) |
| DDC-Notation | 621.3822 (maschinell ermittelte DDC-Kurznotation) |
| Sachgruppe(n) | 621.3 Elektrotechnik, Elektronik |
| Online-Zugriff | Archivobjekt öffnen |
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