Katalog der Deutschen Nationalbibliothek
Ergebnis der Suche nach: "test"
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| Link zu diesem Datensatz | https://d-nb.info/gnd/1279001518 |
| Veranstaltung | IEEE International Conference on Microelectronic Test Structures (34. : 2022 : Cleveland, Ohio) |
| Andere Namen |
International Conference on Microelectronic Test Structures (34. : 2022 : Cleveland, Ohio) ICMTS (34. : 2022 : Cleveland, Ohio) 2022 IEEE 34th International Conference on Microelectronic Test Structures (ICMTS) |
| Zeit | 21.03.2022-15.04.2022 |
| Land | USA (XD-US) |
| Geografischer Bezug | Veranstaltungsort: Cleveland, Ohio |
| Beziehungen zu Organisationen | Sponsor: IEEE Electron Devices Society |
| Typ | Veranstaltung (vie) |

