Katalog der Deutschen Nationalbibliothek
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| Link zu diesem Datensatz | https://d-nb.info/1016378610 |
| Titel | Kelvin Probe Force Microscopy : Measuring and Compensating Electrostatic Forces |
| Person(en) |
Sadewasser, Sascha (Herausgeber) Glatzel, Thilo (Herausgeber) |
| Verlag | Berlin, Heidelberg : Springer Berlin Heidelberg |
| Zeitliche Einordnung | Erscheinungsdatum: 2012 |
| Umfang/Format | Online-Ressource |
| Andere Ausgabe(n) | Erscheint auch als Druck-Ausgabe: Kelvin probe force microscopy |
| Persistent Identifier |
URN: urn:nbn:de:1111-201110211041 DOI: 10.1007/978-3-642-22566-6 |
| URL | https://link.springer.com/book/10.1007/978-3-642-22566-6 (Verlag) |
| ISBN/Einband/Preis | 978-3-642-22566-6 |
| EAN | 9783642225666 |
| Anmerkungen | Lizenzpflichtig |
| Schlagwörter | Kelvin-Sonde ; Rasterkraftmikroskopie |
| DDC-Notation | 530.417 [DDC22ger]; 502.82 [DDC22ger] |
| Sachgruppe(n) | 530 Physik |
| Online-Zugriff | Archivobjekt öffnen |
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