Katalog der Deutschen Nationalbibliothek
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| Link zu diesem Datensatz | https://d-nb.info/985536659 |
| Titel | Defect oriented testing for nano-metric CMOS VLSI circuits / by Manoj Sachdev ... |
| Person(en) | Sachdev, Manoj (Mitwirkender) |
| Ausgabe | [Online-Ausg. der] 2. [gedr.] ed. |
| Verlag | Dordrecht : Springer - [Berlin ; Heidelberg] : Springer |
| Zeitliche Einordnung | Erscheinungsdatum: 2007 |
| Umfang/Format | Online-Ressource (PDF) |
| Andere Ausgabe(n) | Erscheint auch als Druck-Ausgabe: Defect-Oriented Testing for Nano-Metric CMOS VLSI Circuits |
| Persistent Identifier |
URN: urn:nbn:de:1111-200708024216 DOI: 10.1007/0-387-46547-2 |
| URL |
https://link.springer.com/book/10.1007/u07311 (Verlag) http://dx.doi.org/10.1007/0-387-46547-2 (Resolving-System) |
| ISBN/Einband/Preis |
978-0-387-46547-0 0-387-46547-2 |
| Sprache(n) | Englisch (eng) |
| Beziehungen | Frontiers in electronic testing ; [34] |
| Anmerkungen | Lizenzpflichtig |
| Schlagwörter | CMOS ; VLSI ; Fehlermodell ; Testen ; Online-Publikation |
| DDC-Notation | 621.381548 [DDC22ger] |
| Sachgruppe(n) | 620 Ingenieurwissenschaften und Maschinenbau |
| Online-Zugriff | Archivobjekt öffnen |
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