Katalog der Deutschen Nationalbibliothek
Ergebnis der Suche nach: dcs=539.7*
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| Link zu diesem Datensatz | https://d-nb.info/1036533522 |
| Art des Inhalts | Hochschulschrift |
| Titel | X-ray radiation damage studies and design of a silicon pixel sensor for science at the XFEL / by J. Zhang. Deutsches Elektronen-Synchrotron, DESY |
| Person(en) | Zhang, J. (Verfasser) |
| Verlag | Hamburg : DESY |
| Zeitliche Einordnung | Erscheinungsdatum: 2013 |
| Umfang/Format | XIII, 193 S. : graph. Darst. ; 30 cm |
| Hochschulschrift | Zugl.: Hamburg, Univ., Diss., 2013 |
| ISBN/Einband/Preis | kart. |
| Identifikationsnummern | Reportnummer: DESY-THESIS-2013-018 |
| Sprache(n) | Englisch (eng) |
| Beziehungen | Deutsches Elektronen-Synchrotron: DESY thesis ; 2013,018 |
| DDC-Notation | 539.7222 [DDC22ger] |
| Sachgruppe(n) | 530 Physik |
| Weiterführende Informationen | Inhaltsverzeichnis |
| Frankfurt |
Signatur: 2013 B 17011
Bereitstellung in Frankfurt |
| Leipzig |
Signatur: 2013 B 19151
Bereitstellung in Leipzig |
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