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Titel Mixed level test generation for synchronous sequential circuits using the FOGBUSTER algorithm / Uwe Gläser. Gesellschaft für Mathematik und Datenverarbeitung mbH. [Verantw. für dieses H.: Heinrich Theodor Vierhaus]
Person(en) Gläser, Uwe (Verfasser)
Verlag Sankt Augustin : GMD, WTI, AIW
Zeitliche Einordnung Erscheinungsdatum: 1994
Umfang/Format 22 S. : graph. Darst. ; 30 cm
ISBN/Einband/Preis kart. : DM 15.00
Beziehungen Gesellschaft für Mathematik und Datenverarbeitung: Arbeitspapiere der GMD ; Nr. 869
Anmerkungen Status nach VGG: vergriffen
Sachgruppe(n) 28 Informatik, Datenverarbeitung ; 37 Elektrotechnik

Frankfurt Signatur: 1994 B 22427
Bereitstellung in Frankfurt
Leipzig Signatur: 1994 B 22427
Bereitstellung in Leipzig




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