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Ergebnis der Suche nach: tit all "Algorithms"
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| Link zu diesem Datensatz | https://d-nb.info/1243157488 |
| Titel | Sensitivity of quantitative symmetry measurement algorithms for convergent beam electron diffraction technique / by Hyeongsub So, Ro Woon Lee, Sung Taek Hong, Kyou-Hyun Kim |
| Person(en) |
So, Hyeongsub (Verfasser) Lee, Ro Woon (Verfasser) Hong, Sung Taek (Verfasser) Kim, Kyou-Hyun (Verfasser) |
| Organisation(en) | SpringerLink (Online service) (Sonstige) |
| Umfang/Format | Online-Ressource : online resource. |
| Persistent Identifier |
URN: urn:nbn:de:101:1-2021101322450111129902 DOI: 10.1186/s42649-021-00060-z |
| URL | https://doi.org/10.1186/s42649-021-00060-z (Open Access) |
| Zeitliche Einordnung | Erscheinungsdatum: 2021 |
| Sprache(n) | Englisch (eng) |
| Beziehungen | Enthalten in: Applied microscopy (Bd. 51, 3.7.2021, Nr. 1, date:12.2021: 1-9) |
| Sachgruppe(n) | 620 Ingenieurwissenschaften und Maschinenbau |
| Online-Zugriff | Archivobjekt öffnen |
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